Tillverkare Produktnummer:
SN74LVTH182646APM
Product Overview
Tillverkare:
Texas Instruments
DiGi Electronics Delenummer:
SN74LVTH182646APM-DG
Beskrivning:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Detaljerad beskrivning:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventarier:
1752530
Begära offert
Antal
Minst 1
Minst 1
(*) är obligatoriskt
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
SKICKA
SN74LVTH182646APM Tekniska specifikationer
Kategori
Logik, Specialiserad logik
Tillverkare
Texas Instruments
Förpackning
Tray
Serie
74LVTH
Produktens status
Active
Typ av logik
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Matningsspänningen
2.7V ~ 3.6V
Antal bitar
18
Drifttemperatur
-40°C ~ 85°C
Typ av montering
Surface Mount
Paket / Fodral
64-LQFP
Paket för leverantörsenhet
64-LQFP (10x10)
Grundläggande produktnummer
74LVTH182646
Datablad och dokument
Datablad
Ytterligare information
Standard-paket
160
Andra namn
74LVTH182646APMG4
2156-SN74LVTH182646APM
TEXTISSN74LVTH182646APM
74LVTH182646APMG4-DG
Miljö- och exportklassificering
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Känslighetsnivå för fukt (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN (ECCN)
EAR99
HTSUS (HTSUS)
8542.39.0001
DIGI Certifiering
Relaterade produkter
SN74SSTV32852GKFR
IC BUFFER 24BIT-48BIT 114LFBGA
SN74S1052NSR
IC 16-BIT BUS TERM ARRAY20SO
SN74S1050D
IC12-BIT BUS TERM ARRAY 16-SOIC
