Tillverkare Produktnummer:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
Tillverkare:
Texas Instruments
DiGi Electronics Delenummer:
SN74BCT8374ANTG4-DG
Beskrivning:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Detaljerad beskrivning:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Inventarier:
1667859
Begära offert
Antal
Minst 1
Minst 1
(*) är obligatoriskt
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
SKICKA
SN74BCT8374ANTG4 Tekniska specifikationer
Kategori
Logik, Specialiserad logik
Tillverkare
Texas Instruments
Förpackning
-
Serie
74BCT
Produktens status
Obsolete
Typ av logik
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Matningsspänningen
4.5V ~ 5.5V
Antal bitar
8
Drifttemperatur
0°C ~ 70°C
Typ av montering
Through Hole
Paket / Fodral
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paket för leverantörsenhet
24-PDIP
Grundläggande produktnummer
74BCT8374
Datablad och dokument
Datablad
Ytterligare information
Standard-paket
60
Andra namn
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
Miljö- och exportklassificering
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Känslighetsnivå för fukt (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN (ECCN)
EAR99
HTSUS (HTSUS)
8542.39.0001
Alternativa modeller
DELNUMMER
SN74BCT374N
Tillverkare
Texas Instruments
ANTAL TILLGÄNGLIGT
0
DEL NUMMER
SN74BCT374N-DG
ENHETSPRIS
4.14
Ersättnings typ
MFR Recommended
DIGI Certifiering
Relaterade produkter
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
