SN74BCT8374ANTG4
Tillverkare Produktnummer:

SN74BCT8374ANTG4

Product Overview

Tillverkare:

Texas Instruments

DiGi Electronics Delenummer:

SN74BCT8374ANTG4-DG

Beskrivning:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Detaljerad beskrivning:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP

Inventarier:

1667859
Begära offert
Antal
Minst 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) är obligatoriskt
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
SKICKA

SN74BCT8374ANTG4 Tekniska specifikationer

Kategori
Logik, Specialiserad logik
Tillverkare
Texas Instruments
Förpackning
-
Serie
74BCT
Produktens status
Obsolete
Typ av logik
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Matningsspänningen
4.5V ~ 5.5V
Antal bitar
8
Drifttemperatur
0°C ~ 70°C
Typ av montering
Through Hole
Paket / Fodral
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paket för leverantörsenhet
24-PDIP
Grundläggande produktnummer
74BCT8374

Datablad och dokument

Ytterligare information

Standard-paket
60
Andra namn
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4

Miljö- och exportklassificering

RoHS-status
ROHS3 Compliant
Känslighetsnivå för fukt (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN (ECCN)
EAR99
HTSUS (HTSUS)
8542.39.0001

Alternativa modeller

DELNUMMER
SN74BCT374N
Tillverkare
Texas Instruments
ANTAL TILLGÄNGLIGT
0
DEL NUMMER
SN74BCT374N-DG
ENHETSPRIS
4.14
Ersättnings typ
MFR Recommended
DIGI Certifiering
Relaterade produkter
microchip-technology

SY10EL16VKC-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY10EL16VKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY100EP16VKG-TR

IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP

microchip-technology

SY58601UMI-TR

IC LDRVR/RCVR LVPECL 800MV 8MLF