Tillverkare Produktnummer:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
Tillverkare:
Texas Instruments
DiGi Electronics Delenummer:
SN74BCT8373ANT-DG
Beskrivning:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Detaljerad beskrivning:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Inventarier:
1683754
Begära offert
Antal
Minst 1
Minst 1
(*) är obligatoriskt
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
SKICKA
SN74BCT8373ANT Tekniska specifikationer
Kategori
Logik, Specialiserad logik
Tillverkare
Texas Instruments
Förpackning
-
Serie
74BCT
Produktens status
Obsolete
Typ av logik
Scan Test Device with D-Type Latches
Matningsspänningen
4.5V ~ 5.5V
Antal bitar
8
Drifttemperatur
0°C ~ 70°C
Typ av montering
Through Hole
Paket / Fodral
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paket för leverantörsenhet
24-PDIP
Grundläggande produktnummer
74BCT8373
Datablad och dokument
Datablad
Ytterligare information
Standard-paket
15
Andra namn
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
Miljö- och exportklassificering
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Känslighetsnivå för fukt (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN (ECCN)
EAR99
HTSUS (HTSUS)
8542.39.0001
Alternativa modeller
DELNUMMER
SN74BCT8373ADW
Tillverkare
Texas Instruments
ANTAL TILLGÄNGLIGT
0
DEL NUMMER
SN74BCT8373ADW-DG
ENHETSPRIS
9.11
Ersättnings typ
MFR Recommended
DIGI Certifiering
Relaterade produkter
SN74ABT8543DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ACT1284NSR
IC 7BIT BUS INTERFC 3ST 20SO
SN74LV161284DL
IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP
