Tillverkare Produktnummer:
SN74ABT18652PM
Product Overview
Tillverkare:
Texas Instruments
DiGi Electronics Delenummer:
SN74ABT18652PM-DG
Beskrivning:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Detaljerad beskrivning:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventarier:
1545477
Begära offert
Antal
Minst 1
Minst 1
(*) är obligatoriskt
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
Vi återkommer till dig inom 24 timmar
SKICKA
SN74ABT18652PM Tekniska specifikationer
Kategori
Logik, Specialiserad logik
Tillverkare
Texas Instruments
Förpackning
Tray
Serie
74ABT
Produktens status
Active
Typ av logik
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Matningsspänningen
4.5V ~ 5.5V
Antal bitar
18
Drifttemperatur
-40°C ~ 85°C
Typ av montering
Surface Mount
Paket / Fodral
64-LQFP
Paket för leverantörsenhet
64-LQFP (10x10)
Grundläggande produktnummer
74ABT18652
Datablad och dokument
Datablad
Ytterligare information
Standard-paket
160
Andra namn
-SN74ABT18652PMG4-NDR
296-3944
TEXTISSN74ABT18652PM
296-3944-NDR
-SN74ABT18652PM-NDR
-296-3944-DG
-296-3944-NDR
-SN74ABT18652PMG4
2156-SN74ABT18652PM
-296-3944
SN74ABT18652PMG4
SN74ABT18652PMG4-DG
Miljö- och exportklassificering
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Känslighetsnivå för fukt (MSL)
3 (168 Hours)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN (ECCN)
EAR99
HTSUS (HTSUS)
8542.39.0001
DIGI Certifiering
Relaterade produkter
SN74GTLP2034DGGR
IC REG TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP
SN74FB2041ARCG3
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP
SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
